HS5660X 型多通道噪声/振动测量分析系统

HS5660X 型多通道噪声/振动测量分析系统

HS5660X型多通道噪声振动测量分析系统
HS5660X型多通道噪声振动测量分析系统产品，实现了多通道噪声和振动的测量和分析结果，在同一界面全面、直观的显现，为技术分析人员提供了一个可以直观分析对比的技术平台；以word方式自动生成图文并茂的检测报告，为广大检测人员提供了一种极其便捷的检测报告输出和编辑平台。可以自主选择的时域与频域两种、十一个类型的分析图形，{zd0}限度的满足了日常检测与分析的需要。扣背景测量功能：
扣背景测量，是在精细频谱数据基础上进行的扣背景测量方式，突破了传统意义上1/1或1/3倍频程数据背景修正的局限性，使该功能应用于故障分析领域成为可能。
扣背景测量方式，还可以应用于大多数背景相对稳定的噪声和振动条件下，可以使噪声和振动的检测场应用范围得以向下延伸（例如：可以突破消声室的本底噪声下限限制，测量更低的噪声声源！）
在满足抗干扰测量的基本条件下，该功能还可以应用于高噪声或振动背景条件下的产品噪声或振动的测量。
主要应用范围：
电器、汽车及其部件、机械设备等行业或相应的科研院所、高校、质量技术监督、建筑质检等部门。
主要功能和特点：
多通道实时噪声、振动加速度、速度和位移测量；
声压、声压级、加速度随时间变化测量(时间历程)；
噪声、振动扣背景测量；
噪声、振动测试通道自动校准；
频谱分析：多通道噪声、振动同步FFT窄带自功率谱分析；
自动生成含有检测分析数据、图谱的检测报告(word方式)；