LIRI-2006型显微图像分析仪
LIRI-2006型显微图像分析系统是我公司研制的一种图像法颗粒分析仪器。它是传统的显微镜法与现代的图像处理技术相结合的产物。它的基本工作流程是通过数字摄像机抓拍颗粒在显微镜下的图像并传输到计算机中，通过专业的颗粒图像fxrj对图像进行处理与分析， 经显示器和打印机显示和输出分析结果。本仪器具有直观、准确、测试范围宽等特点，不仅可以直接观察到颗粒形貌，还可以计算出每个颗粒粒径和圆形度以及粒度分布和圆形度分布，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。
软件功能：
1、数据处理功能：通过对图像进行处理，电脑自动统计出颗粒个数，并计算出颗粒的面积、等效直径、等效周长、实际周长、圆形度等参数。自动生成粒度分布表和分布图以及d10、d50、d90等典型参数。
2、软件输出项目：包括原始数据（样品信息和测试信息）；分析数据（粒度分布表/粒度分布图）；图形 （频率分布直方图和累计分布曲线）；典型结果（中位径，平均径，圆形度等）。
3、图像处理功能：对图像进行灰度转换，二值化，分割，删除，剪切，粘贴，缩放，填充等一系列处理，得到颗粒清晰的黑白二值化图像。
4、报告输出功能：可以打印原始图像和多种测试报告，包括粒度报告，图像报告，圆形度报告以及粒度和典型图像的综合报告。
适用领域：
1、研磨材料：白刚玉、金刚石、碳化硅、碳化硼、氧化铈等；
2、电池材料：石墨、钴酸锂等；
3、其他：可用来观察各种非金属粉、金属粉以及其他粉体。
技术参数：
测试范围： 1-3000微米
显微镜： 光学显微镜（可选其他种类显微镜，如金相显微镜等）
数字摄像机： 300万像素
{zd0}光学放大倍数： 1600倍
{zd0}分辨率： 0.1微米/像素
重复性误差： <3%（不包含样品制备因素造成的误差）
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