半导体老化试验箱—高压加速老化试验箱
用途:
广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。
技术规格:
1.使用温度:121℃;132℃;(143℃特殊选用)
2.使用湿度:100%RH饱和蒸气湿度
3.使用蒸气压力({jd1}压力):1个环境大气压 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2属于特殊规格)
4.循环方式:水蒸气自然对流循环
5.安全保护装置:缺水保护,超压保护、 (具有自动/手动补水功能,自动泻压功能)
6.配 件:不銹钢隔板两层
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