技术规格
*工作原理：采用X射线荧光（XRF）技术进行多元素分析
*探 测 器：高性能、高分辨率Si-Pin X射线探测器，Peltier效应半导体制冷
*硬件系统：日立SH-4 CPU ASICS高速数字信号处理器 4096像元微通道结构
*充电电池：电池满充电可连续工作8-12小时
*显 示 器：带背光的视频图形阵列（VGA）触摸屏LCD,显示分析时间，合jp号，成分百分比含量和分析误差值（2倍sigma误差）
*分析范围：从22号元素钛（Ti）到83号元素铋（Bi）中，23个标准合金成分元素。选配充氦装置可以分析Mg,Al, Si, P。非标准元素亦可能分析，需根据具体情况协商确定
*工作模式：（1）合jp号鉴别与成分分析模式；（2）标识匹配鉴别模式；（3）超级成分分析模式
*数据存储：6000个以上的测量数据及其X射线谱图
*仪器重量：1.4公斤
*仪器尺寸：248×273×95mm（L×H×W）
*激 励 源：低功率35kV/1.0W银阳极靶X射线管
*工作条件：环境温度-20℃-50℃
*安全特性：操作密码保护，防止非授权人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁
*标准附件：带锁的防水手提箱，携带用仪器保护套，备用充电电池及护套，110v/220v通用充电器，PC机连接电缆，NDT软件，仪器手腕安全系索，仪器检查、验证用合金标样，使用手册
分析范围
*激 励 源：Ｘ射线管
*分析元素：Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Zr Nb Mo Sn Hf Ta W Re Pb Bi Se Sb
应用范围：各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等；可通过对其它合金元素的测定，实现对铝、镁轻合金的牌号鉴定。
XLt的特点
*真正实现在现场对被检材料进行wq无损的快速检测
*仪器直观显示合jp号和元素成分百分比含量
*用户可以自行编辑合jp号库和添加合jp号
*仪器无需外接PDA，一体化程度更高，抗电脑病毒，防尘防水能力强，操作便捷
*可选蓝牙附件实现与计算机的无线通讯
*随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制
*自动存储6000个以上的分析数据和谱图
*不含放射性同位素激励源
*外型优雅、握在手中很舒适
*高强度、高密封性设计，防溅水，抗冲击性好
*采用尼通专利技术的高速电子部件，延长了电池工作时间，通常充满电后，可轻松完成2000点（10秒/点）以上的测试
*一体化触摸屏，用户界面先进、直观，操作方便
*具有热
广告
